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产品详细页

真空衰变法包装无损密封性测试仪

简要描述:真空衰变法包装无损密封性测试仪依据《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。联系山东普创工业科技有限公司咨询订购吧

  • 产品型号:MLT-V100
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-10-24
  • 访  问  量:113

产品介绍

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《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》

《USP1207美国药典标准 》

《药品GMP指南——无菌药品》11.1密封完整性测试

《中国药典》2020年版四部 微生物检查法

《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南(试行)》

通过标准腔与测试腔的压力比对,来判定测试腔是否存在气体泄漏。

产品原理
真空衰减法无损微泄露密封性测试仪微泄露密封测试仪 基准容器和被测容器都是确保密封不存在泄漏的,将试样放入被测容器后,由于试样的气体泄漏导致被测容器的压力变化,通过差压传感器检测到压力的变化量,再通过公式计算可推导出泄漏孔径和泄漏流量

测试方法

方法解释




单传感器测试技术


单传感器一般指使用一个压力传感器,压力传感器与测试腔连接,通过传感器的压力变化判断测试结果。

此技术检测精度较低,一般可检测5ccm(约25μm漏孔)。其检测精度取决于压力传感器的精度。


双传感器测试技术

一般指使用压力传感器和差压传感器两种传感器配合,采用双腔对比测试,通过监控差压传感器的压力变化判断测试结果。

此技术检测精度较高,可以分辨3μ以下的泄漏。


多传感器测试技术

在双传感器技术基础上增加力传感器或其他类型传感器,通过多传感器比较,提高测试精度和准确度并可以计算出泄漏孔径。

真空衰变法包装无损密封性测试仪真空衰变法包装无损密封性测试仪

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